Компания ООО «ИНСКАН» представила аналитические решения IQSCAN на «Юшкинских чтениях — 2026» в Сыктывкаре

С 19 по 22 мая 2026 года в Сыктывкаре на базе Института геологии имени академика Н. П. Юшкина ФИЦ Коми НЦ УрО РАН состоялась Российская конференция с международным участием «Современные проблемы теоретической, экспериментальной и прикладной минералогии» (Юшкинские чтения — 2026). Мероприятие, учрежденное в 2013 году в память о выдающемся минералоге, вице-президенте Международной минералогической ассоциации академике Н. П. Юшкине, в этом году было приурочено к 90-летию со дня его рождения.

Конференция традиционно стала одной из ключевых площадок страны для обсуждения результатов мирового уровня в области минералогии и наук о материалах. Мероприятие объединило около 400 участников из академических институтов и отраслевых центров России, а также зарубежных ученых из Китая и Узбекистана. Проведение чтений было поддержано Уральским отделением РАН, Минобрнауки РФ, Российским минералогическим обществом и Правительством Республики Коми.

Компания ООО «ИНСКАН» выступила одним из официальных спонсоров конференции, представив участникам современное аналитическое оборудование для решения фундаментальных и прикладных задач недропользования и материаловедения.

Научная повестка конференции охватила широкий круг направлений: от фундаментальных вопросов генетической минералогии, наноминералогии, кристаллогенезиса и биоминералогии до синтеза функциональных материалов и внедрения методов машинного обучения и искусственного интеллекта.
В рамках деловой программы специалисты компании ИНСКАН представили серию докладов:

• Линейка аналитического оборудования IQSCAN: подробный обзор современных растровых и просвечивающих электронных микроскопов, а также приборов для рентгеновской дифрактометрии (РФА/XRD).
• Научный доклад по практическому применению двухлучевых систем: возможности комплекса IQSCAN FIB55 (FIB-SEM) для трехмерной визуализации, локальной пробоподготовки и расшифровки кристаллической структуры новых минеральных фаз микронного и субмикронного масштаба.

В ходе работы конференции специалисты ИНСКАН провели серию продуктивных переговоров с представителями ведущих научных школ:

• Всероссийский научно-исследовательский институт минерального сырья им. Н. М. Федоровского (ФГБУ «ВИМС»):

Состоялась встреча с доктором геолого-минералогических наук, заведующей минералогическим отделением и председателем Научного совета по методам минералогических исследований Еленой Германовной Ожогиной. В центре внимания были возможности просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ), в частности дифракции электронов для прецизионного фазового анализа минералов субмикронного размера в сложных полиметаллических рудах — в задачах, где стандартного рентгеноспектрального микроанализа (ЭДС) на базе СЭМ уже недостаточно.

• Институт геологии Коми НЦ УрО РАН им. академика Н. П. Юшкина:

В диалоге с директором института, доктором геолого-минералогических наук Игорем Николаевичем Бурцевым и ведущим научным сотрудником, доктором геолого-минералогических наук Ольгой Павловной Тельновой обсуждались перспективы применения двухлучевых систем (FIB-SEM) для исследований минерального сырья и уникальных палеонтологических объектов. В рамках встречи были отмечены широкие аналитические возможности IQSCAN FIB55 для комплексной оценки фазового состояния и послойного анализа микроструктуры образцов.

• Институт химии Коми НЦ УрО РАН:

С ведущим научным сотрудником, доктором технических наук Еленой Истоминой Иннокентьевной обсуждались актуальные задачи материаловедения — анализ тонких функциональных покрытий и внутренней микроструктуры перспективных наноматериалов. Исследователи проявили высокий интерес к возможностям IQSCAN FIB55, включая изучение тонких фольг на встроенном in-situ STEM-детекторе.

Компания ИНСКАН выражает искреннюю благодарность оргкомитету конференции за высокий уровень организации мероприятия, сохранение академических традиций и стимулирование междисциплинарного диалога.

Мы всегда открыты к научному сотрудничеству и приглашаем коллег протестировать возможности приборов линейки IQSCAN на реальных задачах в наших демонстрационных центрах в Москве, Санкт-Петербурге и Екатеринбурге.