Каталог оборудования

Визуализация поверхности образца, топографический контраст, композиционный контраст, анализ элементного состава

Устройства для проведения механических испытаний внутри камеры СЭМ, зондовые станции

Материаловедение: кристаллическая решётка с атомным разрешением, электронная дифракция, наночастицы, тонкие плёнки и дефекты, элементный анализ. Биология и медицина: ультраструктура клеток и тканей, вирусы и белковые комплексы, электронная томография.

Нанесение токопроводящих покрытий для исследования образцов методами сканирующей электронной микроскопии

Подготовка поверхности образцов к исследованиям методами СЭМ и ПЭМ

Подготовка тонких и ультратонких срезов для исследования методами ПЭМ и СЭМ и др.

Подготовка образцов к исследованиям методами просвечивающей электронной микроскопии

Подготовка образцов к исследованиям методами сканирующей электронной микроскопии

Установка для сушки в критической точке SCD-350M

Получение изображений и спектров катодолюминесценции. Исследование оптических и электронных свойств неорганических материалов

Настольные установки для активации, очистки и модификации поверхности широкого спектра материалов

Преобразует любые сканирующие электронные микроскопы, в том числе и двулучевые системы, в лабораторные литографы

Идентификация фаз, количественный фазовый анализ, анализ текстуры и остаточных напряжений

Переносной анализатор остаточных напряжений. Идеальное решение для кристаллических материалов

АСМ позволяет визуализировать топографию поверхности образца с высоким пространственным разрешением

XAFS2300 предназначен для определения координационного числа, координационной конфигу¬рации элементов, длины связи, валентного состояния, микронапряжений второго рода