Остаточное напряжение оказывает большое влияние на работу механических агрегатов. Оно влияет на такие свойства материалов, как усталость, разрушение, коррозия и трение. Остаточные напряжения представляют собой напряжения натяжения и сжатия, которые остаются в компонентах после приложения к ним внешней нагрузки.
Большинство производственных процессов (механических, тепловых, химических), которые приводят к деформациям и изменениям объёмов, создают остаточные напряжения в компонентах.
В качестве примеров можно привести закаливание, литьё, стыковая сварка, отпуск, старение, и т.д. Такие химические процессы, как окисление, коррозия, гальваника, и т.д., также являются источниками остаточных напряжений.
Эффекты варьируются от "приповерхностной" зоны, которые создаются в результате механической обработки, шлифования и т.д., до внутренних областей компонента, которые создаются в результате литья, сварки, термической обработки и т.д.
Остаточные напряжения при сжатии увеличивают усталостный ресурс и коррозию под напряжением, т.к. они задерживают образование и распространение трещин, и позволяют снизить уровень напряжений в тех слоях, где прикладываемая нагрузка является максимальной. И наоборот, напряжения при растяжении ухудшают механические свойства компонентов.
Для измерения остаточных напряжений используются различные методы, но только метод рентгеновской дифракции обладает пространственным и объёмным разрешением, способным полностью и адекватно характеризовать распределение остаточных напряжений по областям.
Измерения методом рентгеновской дифракции позволяют определять остаточные напряжения в результате исследования распределений деформаций кристаллической структуры, и позволяют контролировать и оптимизировать параметры процесса по результатам неразрушающего анализа в приповерхностной зоне поликристаллического компонента.
Небольшая глубина проникновения рентгеновских лучей также позволяет вычерчивать графики профилирования по глубине после измерения напряжений на различной глубине после электрохимического полирования поверхности компонента.
Можно анализировать все материалы с достаточной степенью кристаллизации; надёжность измерений методом рентгеновской дифракции зависит от степени кристаллизации, шероховатости поверхности, плоскостности поверхности, высокой текстурированности материалов, крупнозернистости материала, ширины дифракционных линий.