Рентгеновская порошковая дифракция

Рентгеновская порошковая дифракция (метод порошка) — это быстрый и эффективный метод исследования, который используется для определения кристаллической структуры материала, размера элементарной ячейки, межплоскостных расстояний и фазового состава посредством дифракции рентгеновских лучей на порошкообразном или поликристаллическом образце.

Основные принципы рентгеновской порошковой дифракции

Макс фон Лауэ в 1912 году предположил, что коротковолновое электромагнитное излучение (например, рентгеновские) вызывает в кристаллическом веществе явление дифракции или интерференции, кристалл в этом случае будет действовать как трехмерная дифракционная решетка. Впоследствии, эта теория была экспериментально доказана и была разработана математическая формулировка этого открытия.
Условие Вульфа-Брэгга
Условие Вульфа-Брэгга. Позволяет определить межплоскостные расстояния d в кристалле, так как λ обычно известна, а углы θ измеряются экспериментально.
Дифракция рентгеновских лучей основана на интерференции монохроматического рентгеновского излучения и кристаллического образца. Эти рентгеновские лучи генерируются электронно-лучевой трубкой, фильтруются для получения монохроматического излучения, фокусируются и направляются к образцу. Взаимодействие падающих лучей с образцом приводит к дифракции (отражению) лучей, когда условия удовлетворяют закону Вульфа-Брэгга (nλ = 2d sin θ). Этот закон связывает длину волны электромагнитного излучения с углом дифракции и межплоскостным расстоянием в кристаллическом образце. Затем эти дифрагированные рентгеновские лучи регистрируются, обрабатываются и подсчитываются. При сканировании образца в диапазоне углов 2θ достигаются все возможные дифракционные направления решетки ввиду случайной ориентации частиц порошкообразного материала. Преобразование дифракционных пиков в межплоскостные расстояния позволяет идентифицировать вещество, поскольку каждое вещество имеет набор уникальных межплоскостных интервалов. Как правило, это достигается путем сравнения этого набора со стандартными эталонными образцами.

Приборы для рентгеновской порошковой дифракции

Рентгеновские дифрактометры состоят из четырех основных элементов: рентгеновской трубки, гониометра, держателя с образцом и детектора рентгеновского излучения.
Дифрактометр HAOYUAN DX-2700
Дифрактометр HAOYUAN DX-2700
Рентгеновские лучи генерируются в электронно-лучевой трубке путем нагрева нити накала для получения электронов, ускорения электронов по направлению к мишени за счет приложения напряжения и бомбардировки материала мишени электронами. Когда электроны обладают энергией, достаточной для смещения электронов внутренней оболочки материала мишени, возникают характеристические рентгеновские спектры. Эти спектры состоят из нескольких компонентов и уникальны для каждого материала мишени (Cu, Fe, Mo, Cr). Фильтрация фольгой или кристаллическими монохроматорами необходима для получения монохроматического рентгеновского излучения, необходимого для дифракции. Эти рентгеновские лучи фокусируются и направляются на образец. При вращении трубки и детектора регистрируется интенсивность отраженного рентгеновского излучения. Когда геометрия падающих рентгеновских лучей, падающих на образец, удовлетворяет уравнению Брэгга, возникает пик интенсивности из-за отражения лучей. Детектор записывает и обрабатывает этот рентгеновский сигнал, дифрактограмма выводится на монитор компьютера в окне ПО и результат сохраняется в файл.
Дифрактометр HAOYUAN DX-2700
Внутри дифрактометра: источник рентгеновского излучения, шестипозиционный сменщик образцов и детектор

Применение рентгеновской порошковой дифракции

Рентгеновская порошковая дифракция наиболее широко используется для идентификации неизвестных кристаллических материалов (например, минералов, неорганических соединений). Определение неизвестных твердых тел имеет решающее значение для исследований в геологии, материаловедении и биологии

    Основные области применения

    • Определение характеристик кристаллических материалов
    • Измерение чистоты образца
    • Идентификация мелкозернистых минералов, таких как глины и глинистые минералы с чередующимся расположением слоев, которые трудно определить оптически
    • Определение размеров элементарной ячейки
    • Обсчёт кристаллических структур методом Ритвельда
    • Определение соотношений фаз в многофазных образцах (количественный анализ)
    • Измерение текстуры, таких как ориентация зерен, в поликристаллическом образце
    • Характеризация тонких пленок посредством:
      • определения несоответствия решетки между пленкой и подложкой, а также определения напряжений и деформаций
      • определения плотности дислокаций и качества пленки с помощью измерений кривой качания
      • измерения сверхрешеток в многослойных эпитаксиальных структурах
      • определения толщины, шероховатости и плотности пленки посредством измерения отражательной способности рентгеновских лучей при скользящем пучке

    Сильные стороны рентгеновской порошковой дифракции
    • 1
      Высокая скорость анализа, типичное время на идентификацию фаз составляет меньше 20 минут
    • 2
      Точная идентификация соединений, однозначность получаемых результатов
    • 3
      Простота пробоподготовки
    • 4
      Доступность дифрактометров
    • 5
      Относительная простота интерпретации результатов
    Слабые стороны рентгеновской порошковой дифракции
    • 1
      Для идентификации неизвестного материала лучше всего подойдет однородный и однофазный образец
    • 2
      Требуются десятые доли грамма материала, измельченного в порошок
    • 3
      Необходим доступ к базе данных эталонов
    • 4
      Возможность наложения пиков
    • 5
      Для многофазных образцов предел обнаружения составляет ~ 2% от образца