Атомно-силовой микроскоп BRISK

В настоящее время АСМ является одним из основных инструментов для исследований в области технологии наноструктур. Помимо визуализации топографии поверхности атомно-силовой микроскоп способен определять различные свойства образца в нанометровом масштабе, выполнять функцию наноманипулятора, проводить нанолитографию.
Поскольку пространственное разрешение оптических микроскопов ограничено длиной волны видимого света, в последние десятилетия развивались иные методы микроскопии, применяемые для нанометрового масштаба. Одним из таких методов является атомно-силовая микроскопия (АСМ), получившая широкое распространение благодаря своей универсальности и сравнительно невысокой стоимости.

Принцип работы АСМ

Упругая консоль микронного размера (кантилевер) имеет заостренный конический зонд на свободном конце. Острие зонда, характерный размер которого обычно составляет не более 10 нм, сканирует поверхность образца на очень коротком нанометровом расстоянии. Когда зонд движется вдоль поверхности, Вандерваальсовы силы межатомного взаимодействия между кончиком зонда и поверхностью образца меняются, что приводит к вертикальным смещениям кантилевера, которые в свою очередь регистрируются оптическим методом. Отраженный от тыльной стороны кантилевера луч лазера попадает на четырёхсекционный фотодиод. Таким образом, выходные сигналы с секций фотодиода соотносятся с вертикальными перемещениями кантилевера, которые в свою очередь отражают топографию поверхности образца.
Принцип работы атомно-силового микроскопа

Ключевые особенности

  • Упрощенная процедура визуализации
    Простота управления и снижение времени, требуемого на накопление изображения, делают BRISK очень удобным для пользователей
  • Продуманная процедура замены зонда
    Имеется возможность надежно зафиксировать зонд в измерительной АСМ-головке в кратчайшее время
  • Оптическая навигация с высоким увеличением
    Выбор участка сканирования осуществляется с помощью имеющейся на приборе оптической навигационной системы
  • Совместимость с различными типами компьютеров
    Могут использоваться персональные компьютеры, ноутбуки, моноблоки
  • Новое поколение электроники
    Использование передовой электроники улучшило работу контроллера
  • Интерфейс LAN
    Все данные между микроскопом и компьютером передаются по единому сетевому кабелю
  • Быстрый подвод зонда к образцу
    Экономия времени на подвод зонда к образцу за счет использования быстрой процедуры является замечательной особенностью BRISK
  • Фантастический дизайн и компактность
    Прибор занимает мало места в лаборатории и его современный внешний вид привлекает пользователей
Атомно-силовой микроскоп BRISK

Характеристики оборудования