В настоящее время АСМ является одним из основных инструментов для исследований в области технологии наноструктур. Помимо визуализации топографии поверхности атомно-силовой микроскоп способен определять различные свойства образца в нанометровом масштабе, выполнять функцию наноманипулятора, проводить нанолитографию.
Запросить КП
Поскольку пространственное разрешение оптических микроскопов ограничено длиной волны видимого света, в последние десятилетия развивались иные методы микроскопии, применяемые для нанометрового масштаба. Одним из таких методов является атомно-силовая микроскопия (АСМ), получившая широкое распространение благодаря своей универсальности и сравнительно невысокой стоимости.
Принцип работы АСМ
Упругая консоль микронного размера (кантилевер) имеет заостренный конический зонд на свободном конце. Острие зонда, характерный размер которого обычно составляет не более 10 нм, сканирует поверхность образца на очень коротком нанометровом расстоянии. Когда зонд движется вдоль поверхности, Вандерваальсовы силы межатомного взаимодействия между кончиком зонда и поверхностью образца меняются, что приводит к вертикальным смещениям кантилевера, которые в свою очередь регистрируются оптическим методом. Отраженный от тыльной стороны кантилевера луч лазера попадает на четырёхсекционный фотодиод. Таким образом, выходные сигналы с секций фотодиода соотносятся с вертикальными перемещениями кантилевера, которые в свою очередь отражают топографию поверхности образца.
Ключевые особенности
Упрощенная процедура визуализации
Простота управления и снижение времени, требуемого на накопление изображения, делают BRISK очень удобным для пользователей
Продуманная процедура замены зонда
Имеется возможность надежно зафиксировать зонд в измерительной АСМ-головке в кратчайшее время
Оптическая навигация с высоким увеличением
Выбор участка сканирования осуществляется с помощью имеющейся на приборе оптической навигационной системы
Совместимость с различными типами компьютеров
Могут использоваться персональные компьютеры, ноутбуки, моноблоки
Новое поколение электроники
Использование передовой электроники улучшило работу контроллера
ИнтерфейсLAN
Все данные между микроскопом и компьютером передаются по единому сетевому кабелю
Быстрый подвод зонда к образцу
Экономия времени на подвод зонда к образцу за счет использования быстрой процедуры является замечательной особенностью BRISK
Фантастический дизайн и компактность
Прибор занимает мало места в лаборатории и его современный внешний вид привлекает пользователей
Характеристики оборудования
XY Сканер
Максимальный диапазон сканирования в плоскости XY: 50 мкм
Разрешение в плоскости XY: 1 нм
Z Сканер
Максимальный диапазон сканирования по оси Z: 4 мкм
Разрешение по оси Z: 0,1 нм
Диапазон перемещений в плоскости XY: 15 мм
Шаг перемещения в плоскости XY: 40 нм
Диапазон перемещения по оси Z: 15 мм
Шаг перемещения по оси Z: 40 нм
Функция автоматического подвода кантилевера к поверхности образца (Auto Fast Approach)
Максимальный диаметр образца: 20 мм
Максимальная толщина образца: 10 мм
Имеется лёгкий магнитный держатель образца
Возможность подачи напряжения на образец в диапазоне от -10 В до + 10 В
Цветное изображение, разрешение 8 Мп
Увеличение от 60 крат до 600 крат
Встроенная подсветка с регулятором
Высокоточный регулируемый микрометр
Длина волны лазера: 670 нм
Максимальная мощность лазерного диода: 5 мВт
4-х секционный фотодиод высокого качества
Функция дизеринга
Оптимизированная оптическая схема
АЦП и ЦАП каналы
4-х канальный АЦП 24 бит
4-х канальный ЦАП 24 бит
Обработка сигналов
Zynq-процессор 40 МГц
Встроенные функции
100 МБит/с по LAN
Получение изображений
100 Мбит/с в режиме реального времени, совместимость с Windows
Встроенные оптические смотровые окна для обзора образца и кантилевера
Автоматическое сохранение полученных изображений в галерее программного обеспечения
Сканирование выделенной области уже собранного изображения
Работа с изображениями
Отдельная программа для обработки изображений, анализа и представления данных
Возможность экспорта различных данных с полученных изображений