+7 812 220 20 80
Контакты

Спектрометр определения тонкой структуры
рентгеновского поглощения XAFS2300

Предназначен для определения координа­цион­ного числа, координационной конфигу­рации элементов, длины связи, валентного состояния, микронапряжений второго рода при исследовании не только новых перспективных функциональных материа­лов, но в экологии, фармакопее, биологии, например, при изучении механизмов связывания радиоактивных и тяжелых металлов в задачах по охране окружающей среды.
Запросить КП
XAFS2300 является сравнительно компакт­ным лабораторным прибором, позволяю­щим получать такие же результаты, как на синхротронах, но со значительно меньшими материальными затратами.
Прибор состоит из трех основных компо­нентов: мощного источника рентгеновского излучения (генератор + трубка), изогнутого эффективного кристалла-моно­хро­матора и SDD-детектора высокого разрешения.

Основные характеристики

  • Мощность
    3 кВт
  • Энергетическое разрешение
    0,5 - 3 эВ
  • Световой поток
    2×106 фотонов в секунду (7‑9 кэВ)
  • Повторяемость
    <50 мэВ, монохроматор не требует повторной юстировки
  • Измерительный диапазон
    4,5 - 25 кэВ
XAFS2300 внутри установки

Сфера применения

XAFS стал важным инструментом определения характеристик для изучения локальных атом­ных и электронных структур материалов в области материаловедения и инженерии. Широко используемый при исследовании наноматериалов, полупроводниковых материалов, химических каталитических материалов, биоматериалов, анализе минералов, военных материалов и т.д., этот метод является важным в области передовых исследований в области физики конденсированных сред в будущем.

Катализ:

многофазный катализ, одноатомный катализ и т.д.; взаимосвязь между атомами катализатора и носителями

Энергетика:

материалы для аккумуляторов, катализаторы для топливных элементов, фотосинтез, улавливание углерода, производство водорода

Материаловедение:

легирование, миграция ионов, валентное состояние, структурная форма кристаллов

Экология:

валентные состояния токсичных элементов и их циркуляция в природе; химическое состояние радиоактивных изотопов

Биология:

поглощение тяжелых металлов растениями и животными
Применение XAFS для точного анализа структуры материалов на предмет углеродной нейтральности и эффективного преобразования энергии CO2
Применение XAFS для точного анализа структуры материалов на предмет
углеродной нейтральности и эффективного преобразования энергии CO2
Запросить КП
Анализатор остаточных напряжений DS-21P
Переносной анализатор остаточных напряжений. Идеальное решение для кристаллических материалов
HAOYUAN DX-2700
Универсальный рентгеновский дифрактометр
HAOYUAN DX-27mini
Настольный рентгеновский дифрактометр
Напылительная установка NSC DSCR
Установка для напыления углерода и благородных металлов
KYKY EM8000 FEG-SEM
Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией
KYKY EM6900
Термоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп
Роль напыления в электронной микроскопии
Что такое процесс напыления и зачем он нужен? Способы напыления токопроводящих покрытий.
Глоссарий
Cловарь узкоспециализированных терминов в области сканирующей электронной микроскопии, рентгеновской дифракции и сопутствующих методов пробоподготовки
Рентгеновская порошковая дифракция
Основные принципы рентгеновской порошковой дифракции. Приборы, применение, сильные и слабые стороны
Плазменная очистка образцов для исследований методами ПЭМ и РЭМ
Что такое плазменная очистка и зачем она нужна? Как работают системы плазменной очистки?
Катодолюминесцентная микроскопия и спектроскопия
Детектор катодолюминесценции в РЭМ, подготовка образцов для катодолюминесцентой микроскопии и спектроскопии
Что такое растровый электронный микроскоп?
Растровый электронный микроскоп, его конструкция, виды детекторов, основные возможности.