В докладе были рассмотрены традиционные методы подготовки образцов, их возможности и ограничения, а также современные подходы ионной обработки поверхности с использованием
сфокусированного и
несфокусированного ионных пучков (ссылка). Особое внимание уделялось локальной пробоподготовке, изготовлению поперечных сечений и тонких ламелей для последующего исследования структуры и состава материалов.