+7 812 220 20 80
Контакты

IQSCAN F40

  • Высокое разрешение позволяет с легкостью работать в субмикронном масштабе
  • Катод Шоттки обеспечивает стабильный и яркий электронный пучок для длительной съёмки и аналитики
  • Удобный интерфейс. Поддержка автоматических функций: автофокус, автоматическая яркость и контрастность, автоматическая коррекция астигматизма
  • Богатые возможности расширения функционала с помощью установки дополнительных опций и детекторов, таких как STEM, EDS, EBSD и др.
  • Режим низкого вакуума в базовой комплектации
  • Дополнительные опции программного обеспечения для анализа частиц и пор: возможность количественного анализа статистики частиц и пор
Запросить КП
Запросить КП
Роль напыления в электронной микроскопии
Что такое процесс напыления и зачем он нужен? Способы напыления токопроводящих покрытий.
Глоссарий
Cловарь узкоспециализированных терминов в области сканирующей электронной микроскопии, рентгеновской дифракции и сопутствующих методов пробоподготовки
Рентгеновская порошковая дифракция
Основные принципы рентгеновской порошковой дифракции. Приборы, применение, сильные и слабые стороны
Плазменная очистка образцов для исследований методами ПЭМ и РЭМ
Что такое плазменная очистка и зачем она нужна? Как работают системы плазменной очистки?
Катодолюминесцентная микроскопия и спектроскопия
Детектор катодолюминесценции в РЭМ, подготовка образцов для катодолюминесцентой микроскопии и спектроскопии
Что такое растровый электронный микроскоп?
Растровый электронный микроскоп, его конструкция, виды детекторов, основные возможности.