Каталог
Новости
Теория
+7 812 220 20 80
Контакты
Каталог
→
Сканирующие электронные микроскопы
→
IQSCAN F50
IQSCAN F50
Сверхвысокое разрешение: 0,6 нм при 15 кВ и 1 нм при 1 кВ. Высокое качество изображения при низких ускоряющих напряжениях
Технология SuperTunnel™: обеспечивает низкие аберрации и высокую стабильность пучка, улучшая качество изображений
Электронно-оптический путь без кроссовера: снижает аберрации и повышает разрешение, особенно при низких напряжениях
Объектив с водяным охлаждением: поддерживает постоянную температуру, обеспечивая стабильность работы
Широкий диапазон доступных энергий электронов: от 20 эВ до 30 кэВ, позволяет исследовать различные типы образцов без дополнительной пробоподготовки
Богатые возможности расширения функционала с помощью установки дополнительных опций и детекторов, таких как STEM, EDS, EBSD и др.
Удобство работы: интуитивно понятный интерфейс и оптическая навигация по образцу упрощают процесс исследования
Запросить КП
Опция; IQSCAN F50
Разрешение; 0.7 нм - 15 кВ (SE) | 1.1 нм - 1 кВ (SE) Увеличение; 12x - 2 500 000x Тип катода; Катод Шоттки Ускоряющее напряжение; 20 В - 30 кВ Детекторы; SE, In-Lens, полупроводниковый четырехсекционный BSE Столик; с пятью степенями свободы Диапазон перемещений столика; X,Y: 110 мм | Z: 65 мм | R: 360° | T: -10° - 70° Дополнительные опции; EDS, EBSD, CL, STEM, шлюз, столик с нагревом и охлаждением, столик для физико-механических испытаний и др.
Button
Запросить КП
IQSCAN F50 - Запрос КП
ФИО
Ваш email
Ваш телефон
Ваш комментарий
Отправить
Нажимая на кнопку, вы даете согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь c политикой конфиденциальности
Перейти в базу знаний
Роль напыления в электронной микроскопии
Что такое процесс напыления и зачем он нужен? Способы напыления токопроводящих покрытий.
Глоссарий
Cловарь узкоспециализированных терминов в области сканирующей электронной микроскопии, рентгеновской дифракции и сопутствующих методов пробоподготовки
Рентгеновская порошковая дифракция
Основные принципы рентгеновской порошковой дифракции. Приборы, применение, сильные и слабые стороны
Плазменная очистка образцов для исследований методами ПЭМ и РЭМ
Что такое плазменная очистка и зачем она нужна? Как работают системы плазменной очистки?
Катодолюминесцентная микроскопия и спектроскопия
Детектор катодолюминесценции в РЭМ, подготовка образцов для катодолюминесцентой микроскопии и спектроскопии
Что такое растровый электронный микроскоп?
Растровый электронный микроскоп, его конструкция, виды детекторов, основные возможности.