Каталог
Новости
Теория
+7 812 220 20 80
Контакты
Каталог
→
Сканирующие электронные микроскопы
→
IQSCAN W32
IQSCAN W32
Современная конструкция электронной колонны;
Улучшенная работа при низких ускоряющих напряжениях. Разрешение 7 нм при 3 кВ;
Упрощенная процедура замены катода и встроенный в ПО мастер юстировки электронной колонны;
Оптическая навигационная камера в базовой комплектации;
Система безопасного перемещения столика, встроенная система коллизий;
Режим компенсации астигматизма с применением искусственного интеллекта. Уникальный режим вспомогательной настройки стигматоров;
Режим низкого вакуума (опция). Для работы с непроводящими образцами без дополнительной пробоподготовки;
Множество дополнительных опций для расширения возможностей.
Запросить КП
Опция; IQSCAN W32
Разрешение; 3 нм - 30 кВ (SE) | 7 нм - 3 кВ (SE) | 4 нм - 30 кВ (BSE) Увеличение; 12x - 300000x Тип катода; Термоэмиссионный вольфрамовый катод Ускоряющее напряжение; 200 В - 30 кВ Вакуумная система; турбомолекулярный насос, роторный насос Детекторы; SE, полупроводниковый четырехсекционный BSE Столик; с пятью степенями свободы Диапазон перемещений столика; X,Y: 125 мм | Z: 50 мм | R: 360° | T: -10° - 90° Максимальный диаметр образца; 270 мм Дополнительные опции; EDS, CL, EBL, шлюз, столик с нагревом и охлаждением, столик для физико-механических испытаний и др.
Button
Запросить КП
IQSCAN W32 - Запрос КП
ФИО
Ваш email
Ваш телефон
Ваш комментарий
Отправить
Нажимая на кнопку, вы даете согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь c политикой конфиденциальности
Перейти в базу знаний
Роль напыления в электронной микроскопии
Что такое процесс напыления и зачем он нужен? Способы напыления токопроводящих покрытий.
Глоссарий
Cловарь узкоспециализированных терминов в области сканирующей электронной микроскопии, рентгеновской дифракции и сопутствующих методов пробоподготовки
Рентгеновская порошковая дифракция
Основные принципы рентгеновской порошковой дифракции. Приборы, применение, сильные и слабые стороны
Плазменная очистка образцов для исследований методами ПЭМ и РЭМ
Что такое плазменная очистка и зачем она нужна? Как работают системы плазменной очистки?
Катодолюминесцентная микроскопия и спектроскопия
Детектор катодолюминесценции в РЭМ, подготовка образцов для катодолюминесцентой микроскопии и спектроскопии
Что такое растровый электронный микроскоп?
Растровый электронный микроскоп, его конструкция, виды детекторов, основные возможности.