Визуализация поверхности образца, топографический контраст, композиционный контраст, анализ элементного состава
Получение изображений и спектров катодолюминесценции. Исследование оптических и электронных свойств неорганических материалов
Нанесение токопроводящих покрытий для исследования образцов методами сканирующей электронной микроскопии
Устройства для проведения механических испытаний внутри камеры СЭМ, зондовые станции, системы пробоподготовки
Настольные установки для активации, очистки и модификации поверхности широкого спектра материалов
Подготовка образцов к исследованиям методами просвечивающей электронной микроскопии
Подготовка образцов к исследованиям методами сканирующей электронной микроскопии
Идентификация фаз, количественный фазовый анализ, анализ текстуры и остаточных напряжений
Определение остаточных напряжений в кристаллических материалах
Преобразует любые сканирующие электронные микроскопы в лабораторные литографы
Финальная полировка и резка методом травления широким пучком ионов аргона
Подготовка ультратонких срезов для исследований методами ПЭМ, СЭМ, АСМ и др.
Визуализация топографии поверхности образца с высоким пространственным разрешением
Определение координа­цион­ного числа, координационной конфигу­рации элементов, длины связи, валентного состояния, микронапряжений второго рода и пр.
Компания ИНСКАН осуществляет поставки высокотехнологичного аналитического оборудования, его запуск, сервисное обслуживание и обучение пользователей работе с оборудованием. Сотрудники компании прошли тренинги на фабриках и применяют свой многолетний опыт для решения комплексных задач заказчика.
Телефон: +7 812 220 20 80
Почта: info@inscan.ru
195220, г. Санкт-Петербург, пр. Непокоренных, д.17, корпус 4, литер В, помещение 54-Н, комната 2, офис 701
Нажимая на кнопку, вы даете согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь c политикой конфиденциальности